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采用高速I-Scan分析后备箱门关闭时的动态压力 |
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作者:昆山创研科技 |
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以下内容显示由高速I-Scan系统(美国Tekscan公司产品)获取的汽车后备箱盖关闭时产生在密封条和薄膜传感器(0.1mm)上的压力情况。压力随时间变化图显示起始压力较高,这是由后备箱盖的动量压缩密封条造成的。随后压力在多次波动后逐渐稳定。通过逐步分析记录下来的压力资料,可以了解在此过程中的密封条所受的压力大小和分布情况变化。每帧图像的记录间隔仅为0.001秒。
美国Tekscan公司生产的I-Scan系统可以用于测定密封条各部位的压力分布情况,来评价密封条的静态和动态密封性能。此外,该系统在测定后备箱门关闭过程中密封条材料的性能时,也非常有效。
应用
• 定位:
• 密封条的缺口
• 密封不良的部位
• 低压或高压部位
• 测量后备箱盖闭合时的压力
• 降低焊缝处附近的高压
• 增加点焊处的低压
• 设计验证
• 设立参考基准
优势
• 有助于降低噪音
• 预估防水性
• 提高质量(end)
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文章内容仅供参考
(投稿)
(7/5/2010) |
| 昆山凯研光电科技有限公司联系方式:
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网址: |
http://www.kedtek.com
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电话:86-512-50110735 |
地址: |
中国·江苏·昆山市庆丰西路669号中天大厦9楼D室 |
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